テストプラグとテストジャック

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テスト プローブ チップは、テスト対象の回路/チップ/設計にテスト機器を接続するために使用されます。多くの場合、このデバイスは、凹面、凸面、クラウン、クランプ、ポイントまたはブレード、またはフック端のヘッドを備えた円筒形のロッドで構成されています。もう一方の端は通常、ワイヤ リードです。特性は、チップ タイプ、接続タイプ、チップの長さ、全体の長さ、電圧定格、およびケーブル定格 (CAT I、CAT II、CAT III、CAT IV、IEC) です。

一部 # メーカー 説明 可用性 価格
Chip Shine / CSRF_TOP100ZH15/200G

TOP100ZH15/200G

Test Plugs & Test Jacks
Chip Shine / CSRF ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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Chip Shine / CSRF_TOP050I05/100G

TOP050I05/100G

Test Plugs & Test Jacks
Chip Shine / CSRF ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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Chip Shine / CSRF_TOP100BB15/200G

TOP100BB15/200G

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Chip Shine / CSRF ICT SPRING CONTACT TEST PROBE
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